- l -

• L : inductor , bondwire
• l : bondwire , vcd_range
• L : mscorner
• l : property_t , qucs::range
• L2 : mstee
• La : mstee
• last_ : Queue< E >
• last_death_test_case_ : testing::internal::UnitTestImpl
• lastasynctime : qucs::e_trsolver
• lastdelta : qucs::e_trsolver
• lastdeltas : qucs::e_trsolver
• lastsolution : qucs::e_trsolver
• lastsynctime : qucs::e_trsolver
• Lb : mstee
• Leff : mosfet
• len : cpwline , twistedpair , csv_data
• length : qucs::interpolator
• limitexp : qucs
• lincircuits : qucs::hbsolver
• line : definition_t , testing::internal::AssertHelper::AssertHelperData , testing::internal::TraceInfo
• line2 : mstee
• line_number_ : testing::TestPartResult
• lineA : mstee
• lineB : mstee
• lines : touchstone_t
• link : mdl_lcontent_t
• link_ : testing::internal::linked_ptr< T >
• list_tests_ : testing::internal::GTestFlagSaver
• listeners_ : testing::internal::UnitTestImpl
• ln10 : qucs
• ln2 : qucs
• lnfreqs : qucs::hbsolver
• lnnodes : qucs::hbsolver
• log10e : qucs
• log2e : qucs
• ltype : device_t